Machine
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 Analysis Machine |
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| 장비명 | 원자힘현미경 | 장비명(영문) | Atomic Force Microscope |
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| 모델명 | NX10 | ||
| 제작국가 | 한국 | ||
| 제작사 | 파크시스템스 | ||
| 사양 |
1. AFM 스테이지/헤드/스캐너 1) 최대 샘플 사이즈 : 50 mm x 50 mm 2) 샘플이동거리(XY) : 20 mm x 20 mm 3) 수직(Z) 스테이지 이동 : 25 mm 4) 스캐너 - 수평(XY)측정영역 : 50 um x 50 um - 수직(Z) 측정영역 : 최대 15 um - 분해능 : XY축 0.05 nm, Y축 0.015 nm 5) 캔틸레버 변형의 검출 방식 : SLD - 파장 : 830 nm 6) SPM 측정 기능 : Contact mode, Non-contact mode, Tapping mode, Lateral Force Microscopy(LFM), Phase Imaging, Force vs. Distance curve 2. 온도조절 Liquid Cell 및 Liquid Probehand |
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| 용도 | 주용도 : 렌즈 표면 분석 | ||
| 장비사진 | |||
